泰克AFG31000系列是全新智能型AFG,它內置任意波形發生和實時波形監測功能。全新AFG31000提供了高級波形生成和編程功能,支持波形監測,擁有觸摸屏界面,讓每個科研人員和工程師的測試變得更簡單,讓工作變得更輕松。
u單或雙通道型號
u輸出幅度范圍 1mVP-P ~ 10VP-P 至 50Ω 負載
u基本 (AFG) 模式:
w25 MHz, 50MHz, 100MHz, 150MHz, 或 250MHz 正弦波形
w250 MSa/s, 1GSa/s 或 2GSa/s 采樣率
w14 位垂直分辨率
w內置波形包括正弦、方波、鋸齒波、脈沖、噪聲和其他常用波形
w掃描、突發和調制模式 (AM, FM, PM, FSK 和 PWM)
u高級 (序列) 模式:
w連續模式 (選配序列模式、已觸發模式和選通模式)
w每條通道上 16Mpts 任意波形內存 (128Mpts 選配)
w序列模式下最多 256 步,支持循環、跳轉和等待事件
w可變采樣時鐘 1μSa/s ~ 2GSa/s
u憑借InstaView™ 技術,工程師可以實時查看被測器件 (DUT) 上的實際波形,而不需使用示波器和探頭,降低了因阻抗不匹配引起的不確定度
u波形序列選項可以對復雜的長波形編程,支持最多 256 步
u9 英寸容性觸摸屏的操作與智能手機類似,為常用設置提供了快捷方式
u內置 ArbBuilder 可以在儀器上創建和編輯任意波形,而不需要連接電腦
u可以防止輸出發生過壓和過流,最大限度地降低儀器損壞的潛在風險
u兼容 TekBench™ 軟件,在實驗室中幫助學生設置、控制和分析測試結果
型號
模擬通道
輸出頻率
記錄長度
采樣率
垂直分辨率
1
25 MHz
16 MSa/通道
250 MS/s
14 位
50 MHz
500 MS/s
2
100 MHz
1 GS/s
150 MHz
2 GS/s
250 MHz
這是一個模擬世界。 所有物理量均使用模擬信號捕獲和表示。 因此,需要檢定放大器、濾波器和轉換器等模擬電路的性能。
uInstaView™ 技術避免在阻抗不匹配的 DUT 上增加的波形不確定性
u頻率范圍為 25 MHz 至 250 MHz
u由于信號保真度高,無需使用外部濾波器或衰減器
u由于具有頻率捷變特性且正弦波平坦度經過校準,頻率響應測試可以輕松完成
傳感器廣泛用于幾乎所有現代化電子設計領域,從汽車到醫療器械再到電子消費品。 迄今為止,使用 AFG 捕獲波形并進行復制以便排除故障或驗證一直是極具挑戰的過程。
ArbBuilder 可直接導入多個泰克示波器產品系列保存的 csv 格式的波形高達 128 M 點的任意內存極大地增加了信號的長度低噪音本底使信號更為清晰。
在產品上市前,測試工程師必須進行大量測試用例,確保產品滿足技術規格。 但是,此過程比較耗時且重復。
u完全可編程,實現自動測試和手動測試的直觀用戶界面
u波形序列使用戶在一個序列中序列化所有測試程序
u靈活的重復跳轉方法保證高效率
u高達 128 M 點的任意內存和內置非易失性閃存存儲所有波形和測試程序
數字設計中的所有電路部分按照時鐘速度同時工作。大系統中的所有設備必須與觸發信號協調,以確保它們正常、可靠地工作。使用 AFG31000 是生成時鐘和觸發脈沖的有效方法。
u脈沖/方波頻率范圍高達 160 MHz
u頻率捷變實現時鐘不同速率的無縫切換
u易用的向導說明指導您完成多臺設備的同步過程以便增加通道數
u低抖動水平,讓您在觸發系統時更加自信
雙脈沖測試是一種用于測量開關器件參數和評估 MOSFET 和 IGBT等功率器件動態性能的方法。雙脈沖測試可測量開啟參數、關閉參數和反向恢復參數。
執行此測試可:
u確保MOSFET 和 IGBT 等功率器件滿足產品規格書中的規格
u確認功率器件或電源模塊的實際值或偏差
u在各種負載條件下測量這些開關器件的參數,并在多個設備上驗證性能
研究人員和教師需要大量信號才能完成研究和教學工作。 測試可以像一系列的脈沖一樣簡單,模擬 Geiger-Muller 計數器的輸出,或者像一個長基帶 IQ 一樣復雜。
uInstaView™ 技術避免因連接復雜負載上增加輸出波型不確定性
u確整合多種特性與功能
u雙工作模式均衡易用性和靈活性以便生成最復雜波形
u內置的 ArbBuilder 用于在屏幕上直接生成和編輯任意波形